en
id
sk
srp
swe
it
pt
ben
may
bel
nl
fra
th
vie
ru
jp
kor
de
arm
aze
bos
bul
bur
cs
dan
div
el
est
fil
fin
gle
glg
grn
heb
hi
hkm
hrv
hu
ice
kan
kin
lao
lav
lit
ltz
lug
mao
mlt
nep
nor
nya
ori
orm
per
pl
rom
san
som
spa
swa
tam
tr
ukr
urd
wel
xho
Основні технічні параметри PARMI Xceed 3D AOI:
Швидкість перевірки: найвища в галузі швидкість перевірки становить 65 см²/с, підходить для області перевірки 14 x 14 мкм.
Час перевірки: час перевірки на основі друкованої плати 260 мм (Д) X 200 мм (Ш) становить 10 секунд.
Технологія джерела світла: проекційна технологія подвійного лазерного джерела світла, оснащена 4-мегапіксельним CMOS-об’єктивом високої роздільної здатності, світлодіодним джерелом світла RGBW і телецентричним об’єктивом.
Конструктивні особливості: надлегкий лазерний дизайн, компактний дизайн, що забезпечує безшумне реальне 3D-зображення.
Інтерфейс користувача: схожий на існуючий макет програми перевірки SPI, простий у вивченні та використанні.
Функція програмування: функція програмування одним клацанням миші, автоматично генерує елементи перевірки за допомогою основних налаштувань ROI, підтримує перевірку багатьох типів дефектів, включаючи відсутні частини, викривлення штифтів, розмір компонента, нахил компонента, перекидання, надгробок, зворотний бік тощо.
Розпізнавання штрих-коду та поганої позначки: розпізнавання штрих-коду та поганої позначки виконується одночасно під час процесу перевірки для підвищення ефективності виробництва.
Ці технічні параметри та функції роблять PARMI Xceed 3D AOI найкращим у сфері SMT (Surface Mount Technology), здатний ефективно та точно виявляти різні типи дефектів, підходить для різних матеріалів друкованої плати та обробки поверхні.
