Santec TSL-775 je vysokovýkonný laditeľný laser so širokým rozsahom ladenia určený na testovanie optickej komunikácie, optické snímanie, charakterizáciu fotonických integrovaných obvodov (PIC) a špičkový vedecký výskum. Ako zástupca špičkového radu laditeľných laserov Santec, TSL-775 vyniká výstupným výkonom, presnosťou vlnovej dĺžky a rýchlosťou ladenia a je vhodný pre aplikácie s prísnymi požiadavkami na výkon svetelného zdroja.
1. Základné vlastnosti a technické výhody
(1) Široký rozsah ladenia vlnovej dĺžky
Rozsah vlnových dĺžok: 1480–1640 nm (pokrývajúce pásmo C a L), kompatibilné s bežnými komunikačnými oknami z optických vlákien.
Rozlíšenie ladenia: 0,1 pm (úroveň pikometra), podporujúce vysoko presné snímanie vlnovej dĺžky.
(2) Vysoký výstupný výkon
Maximálny výstupný výkon: 80 mW (typický), ktorý vyhovuje potrebám diaľkového testovania vlákien a vysokostratovej charakterizácie zariadenia.
Stabilita napájania: ±0,02 dB (krátkodobo), zaisťuje spoľahlivosť testovacích údajov.
(3) Vysokorýchlostné ladenie vlnovej dĺžky
Rýchlosť ladenia: až 200 nm/s, vhodné pre aplikácie rýchleho skenovania (ako je spektrálna analýza, OCT).
Opakovateľnosť vlnovej dĺžky: ±1 pm, zaisťuje konzistentnosť viacerých skenov.
(4) Nízka hlučnosť a úzka šírka linky
Spektrálna šírka čiary: <100 kHz (úroveň koherentnej komunikácie), extrémne nízky fázový šum.
Relatívna intenzita šumu (RIN): <-150 dB/Hz, vhodné pre detekciu s vysokou citlivosťou.
(5) Flexibilná modulácia a ovládanie
Šírka pásma priamej modulácie: DC–100 MHz s podporou analógovej/digitálnej modulácie.
Rozhranie: GPIB, USB, LAN, kompatibilné s automatizovanými testovacími systémami.
2. Typické oblasti použitia
(1) Testovanie optickej komunikácie
Overenie systému DWDM: simulujte kanály s viacerými vlnovými dĺžkami, testujte optické moduly a výkon ROADM.
Charakterizácia kremíkového optického zariadenia: zmerajte odozvu modulátorov a vlnovodov závislú od vlnovej dĺžky.
(2) Optické snímanie
Demodulácia FBG (Fiber Bragg Grating): vysoko presná detekcia posunu vlnovej dĺžky spôsobeného teplotou/napätím.
Distribuované snímanie vlákien (DAS/DTS): poskytuje vysoko výkonný a stabilný svetelný zdroj.
(3) Testovanie fotonického integrovaného obvodu (PIC).
Ladenie kremíkového fotonického čipu: rýchle skenovanie vlnových dĺžok, vyhodnocovanie vložného útlmu zariadenia, presluchov a ďalších parametrov.
Integrácia nastaviteľného laserového zdroja: používa sa na overenie výkonu PIC súvisiaceho s vlnovou dĺžkou.
(4) Vedecké výskumné experimenty
Kvantová optika: generovanie zapletených fotónových párov, distribúcia kvantového kľúča (QKD).
Výskum nelineárnej optiky: stimulovaný Brillouinov rozptyl (SBS), štvorvlnové miešanie (FWM).
3. Technické parametre (typické hodnoty)
Parametre Špecifikácia TSL-775
Rozsah vlnovej dĺžky 1480–1640 nm (C/L pásmo)
Výstupný výkon 80 mW (maximum)
Presnosť vlnovej dĺžky ±1 pm (zabudovaná kalibrácia merača vlnovej dĺžky)
Rýchlosť ladenia Až 200 nm/s
Spektrálna šírka čiary <100 kHz
Stabilita výkonu ±0,02 dB (krátkodobo)
Šírka modulačného pásma DC–100 MHz
Rozhrania GPIB, USB, LAN
4. Porovnanie s konkurenciou (TSL-775 vs. iné laditeľné lasery)
Obsahuje TSL-775 (Santec) Keysight 81600B Yenista T100S-HP
Rozsah vlnových dĺžok 1480–1640 nm 1460–1640 nm 1500–1630 nm
Výstupný výkon 80 mW 10 mW 50 mW
Rýchlosť ladenia 200 nm/s 100 nm/s 50 nm/s
Presnosť vlnovej dĺžky ±1 pm ±5 pm ±2 pm
Použiteľné scenáre Vysokorýchlostný test/charakterizácia PIC Všeobecný komunikačný test Snímanie vysokého výkonu
5. Zhrnutie hlavných výhod
Vysoký výstupný výkon (80 mW) - vhodný pre scenáre testovania na veľké vzdialenosti alebo s vysokou stratou.
Ultrarýchle ladenie (200 nm/s) – zlepšuje efektivitu testu a prispôsobuje sa požiadavkám dynamického skenovania.
Presnosť vlnovej dĺžky na úrovni pikometra – spĺňa požiadavky na test presnosti fotonických integrovaných obvodov (PIC).
Nízky šum a úzka šírka čiary - poskytuje čistý svetelný zdroj pre koherentnú komunikáciu a kvantové experimenty.
Typickí používatelia:
Výrobcovia optických komunikačných zariadení (ako Huawei a Cisco)
Laboratóriá výskumu a vývoja fotonických čipov (napríklad Intel Silicon Photonics Team)
Národné vedecké výskumné inštitúcie (kvantová technológia, optické snímanie)