Santec TSL-775 एकः उच्चशक्तियुक्तः, विस्तृत-ट्यूनिंग-परिधि-ट्यूनेबल-लेजरः अस्ति यः ऑप्टिकल-सञ्चारपरीक्षणाय, ऑप्टिकल-संवेदनार्थं, फोटोनिक-इण्टीग्रेटेड-सर्किट् (PIC)-लक्षणनिर्धारणाय, अत्याधुनिक-वैज्ञानिक-अनुसन्धानाय च डिजाइनः कृतः अस्ति Santec इत्यस्य उच्च-अन्तस्य ट्यूनेबल-लेजर-श्रृङ्खलायाः प्रतिनिधित्वेन, TSL-775 आउटपुट्-शक्तिः, तरङ्गदैर्घ्य-सटीकता, ट्यूनिङ्ग-वेगः च उत्कृष्टः अस्ति, तथा च प्रकाशस्रोत-प्रदर्शने कठोर-आवश्यकताभिः सह अनुप्रयोगानाम् उपयुक्तः अस्ति
1. मूलविशेषताः तकनीकीलाभाः च
(1) विस्तृत तरंगदैर्ध्य ट्यूनिंग श्रेणी
तरङ्गदैर्घ्यपरिधिः : १४८०–१६४० एनएम (C-बैण्ड् तथा L-बैण्ड् कवरं कृत्वा), मुख्यधारायां फाइबर ऑप्टिकसञ्चारविण्डोभिः सह संगतम् ।
ट्यूनिङ्ग रिजोल्यूशन: 0.1 pm (picometer level), उच्च-सटीकतरङ्गदैर्घ्यस्कैनिङ्गस्य समर्थनं करोति ।
(2) उच्च उत्पादनशक्ति
अधिकतमं उत्पादनशक्तिः : 80 mW (विशिष्टः), दीर्घदूरस्य तन्तुपरीक्षणस्य उच्चहानियन्त्रस्य च लक्षणस्य आवश्यकतां पूरयति ।
शक्तिस्थिरता: ±0.02 dB (अल्पकालिक), परीक्षणदत्तांशविश्वसनीयता सुनिश्चित्य।
(3) उच्चगतितरङ्गदैर्घ्यस्य ट्यूनिंग
ट्यूनिंग् गतिः : २०० एनएम/सेकण्ड् पर्यन्तं, द्रुतस्कैनिङ्ग-अनुप्रयोगानाम् (यथा वर्णक्रमीयविश्लेषणं, ओसीटी) कृते उपयुक्तम् ।
तरङ्गदैर्घ्यपुनरावृत्तिक्षमता: ±1 pm, बहुविधस्कैनस्य स्थिरतां सुनिश्चित्य।
(४) न्यूनकोलाहलः संकीर्णरेखाविस्तारः च
वर्णक्रमीयरेखाविस्तारः <100 किलोहर्ट्ज (सुसंगतसञ्चारस्तरः), अत्यन्तं न्यूनचरणस्य शोरः ।
सापेक्षिकतीव्रता शोर (RIN): <-150 dB/Hz, उच्च-संवेदनशीलता-परिचयस्य कृते उपयुक्तः ।
(5) लचीला मॉड्यूलेशन एवं नियन्त्रण
प्रत्यक्ष मॉडुलेशन बैण्डविड्थ: DC–100 मेगाहर्ट्ज, एनालॉग/डिजिटल मॉडुलेशन समर्थयति।
अन्तरफलकम् : GPIB, USB, LAN, स्वचालितपरीक्षणप्रणालीभिः सह संगतम् ।
2. विशिष्टानुप्रयोगक्षेत्राणि
(1) प्रकाशिकसञ्चारपरीक्षणम्
DWDM प्रणाली सत्यापनम् : बहुतरङ्गदैर्घ्यचैनलस्य अनुकरणं, ऑप्टिकलमॉड्यूलस्य परीक्षणं तथा ROADM प्रदर्शनम्।
सिलिकॉन प्रकाशिकयन्त्रस्य लक्षणं : मॉड्यूलेटरस्य तरङ्गदैर्घ्यस्य च तरङ्गदैर्घ्यनिर्भरप्रतिक्रियायाः मापनं कुर्वन्तु ।
(2) प्रकाशिक संवेदन
FBG (Fiber Bragg Grating) demodulation: तापमान/तनावस्य कारणेन तरङ्गदैर्घ्य-परिवर्तनस्य उच्च-सटीकता-परिचयः ।
वितरितं तन्तुसंवेदनम् (DAS/DTS): उच्चशक्तियुक्तं, स्थिरं प्रकाशस्रोतं प्रदाति ।
(3) प्रकाशीय एकीकृत परिपथ (PIC) परीक्षण
सिलिकॉन फोटोनिक चिप् डिबगिंग् : द्रुततरङ्गदैर्घ्यस्कैनिंग्, उपकरणस्य सम्मिलनहानिः मूल्याङ्कनं, क्रॉसटॉक इत्यादयः मापदण्डाः ।
समायोज्यलेजरस्रोतसमायोजनम् : PIC इत्यस्य तरङ्गदैर्घ्यसम्बद्धप्रदर्शनसत्यापनार्थं प्रयुक्तम् ।
(4) वैज्ञानिक शोध प्रयोग
क्वांटम प्रकाशिकी : उलझित फोटॉन युग्मों की जनरेशन, क्वांटम कुंजी वितरण (QKD)।
अरैखिक प्रकाशिकी अनुसन्धान: उत्तेजित ब्रिलोइन बिखरने (SBS), चतुर्-तरङ्ग मिश्रण (FWM)।
3. तकनीकी मापदण्ड (विशिष्ट मान) .
पैरामीटर्स TSL-775 विनिर्देश
तरंगदैर्ध्यपरिधि १४८०–१६४० एनएम (C/L बैंड) २.
उत्पादनशक्तिः ८० मेगावाट् (अधिकतमम्) २.
तरंगदैर्घ्य सटीकता ±1 pm (निर्मित तरंगदैर्ध्य मीटर मापन)
ट्यूनिंग गति 200 एनएम/सेकण्ड् पर्यन्तं
वर्णक्रमीय रेखाचौड़ाई <100 किलोहर्ट्ज
शक्ति स्थिरता ±0.02 dB (अल्पकालिक)
मॉडुलेशन बैण्डविड्थ डीसी–100 मेगाहर्ट्ज
GPIB, USB, LAN इति अन्तरफलकं भवति
4. प्रतियोगिभिः सह तुलना (TSL-775 बनाम अन्ये ट्यूनेबल लेजराः)
विशेषताः TSL-775 (Santec) कीसाइट् 81600B Yenista T100S-HP
तरंगदैर्ध्य सीमा 1480–1640 एनएम 1460–1640 एनएम 1500–1630 एनएम
उत्पादनशक्तिः ८० मेगावाट १० मेगावाट ५० मेगावाट
ट्यूनिंग गति 200 एनएम/सेकंड 100 एनएम/सेकंड 50 एनएम/सेकंड
तरङ्गदैर्घ्यसटीकता ±1 pm ±5 pm ±2 pm
प्रयोज्यपरिदृश्यानि उच्चगतिपरीक्षा/PIC लक्षणं सामान्यसञ्चारपरीक्षा उच्चशक्तिसंवेदनम्
5. मूललाभानां सारांशः
उच्चशक्तिनिर्गमः (८० मेगावाट्) - दीर्घदूरस्य अथवा उच्चहानिपरीक्षणपरिदृश्यानां कृते उपयुक्तम् ।
अल्ट्राफास्ट ट्यूनिङ्ग (200 एनएम/सेकण्ड्) - परीक्षणदक्षतायां सुधारं करोति तथा च गतिशीलस्कैनिङ्ग-आवश्यकतानां अनुकूलतां करोति ।
पिकोमीटर्-स्तरीयतरङ्गदैर्घ्यसटीकता - प्रकाशीय-एकीकृत-परिपथानाम् (PICs) परिशुद्धता-परीक्षण-आवश्यकतानां पूर्तिं करोति ।
न्यूनशब्दः संकीर्णरेखाविस्तारः च - सुसंगतसञ्चारस्य क्वाण्टमप्रयोगस्य च शुद्धप्रकाशस्रोतः प्रदाति ।
विशिष्टाः उपयोक्तारः : १.
प्रकाशिकसञ्चारसाधननिर्मातारः (यथा Huawei तथा Cisco)
फोटोनिक चिप् अनुसंधानविकासप्रयोगशालाः (यथा Intel Silicon Photonics Team)
राष्ट्रीय वैज्ञानिक शोध संस्थान (क्वांटम प्रौद्योगिकी, प्रकाशिक संवेदन)