ACCRETECH-sondestation UF3000EX

ACCRETECH Probe Station UF3000EX is een elektrisch signaaldetectieapparaat voor elke chip op elke wafer, ontworpen om de kwaliteit van halfgeleiderproducten te garanderen. Het apparaat maakt gebruik van next-generation technologie, die de productiecapaciteit aanzienlijk verbetert door nieuwe algoritmen en waferbehandelingstechnologie. De snelle, ruisarme X- en Y-asplatforms profiteren van het nieuwe aandrijfsysteem, terwijl de Z-as zorgt voor een belastingscapaciteit van wereldklasse en hoge precisie. De ontwerpstructuur van het apparaat elimineert op betrouwbare wijze de kracht op het vlak door de goede combinatie van optimaal structureel ontwerp en topologie. Bovendien maken het geavanceerde OTS-positieverwerkingssysteem en het kleurenwaferbeelduitlijningssysteem, evenals de kleine maximale vergrotingsfunctie, de UF3000EX tot een uiterst nauwkeurig en bedienbaar apparaat in de industrie.

Belangrijkste kenmerken

Hoge snelheid en laag geluidsniveau: het nieuwe aandrijfsysteem zorgt ervoor dat de X- en Y-asplatformen efficiënt en stil werken.

Hoge precisie: De Z-as garandeert een laadvermogen van wereldklasse en hoge precisie.

Structurele optimalisatie: De kracht op het vlak wordt geëlimineerd door de goede combinatie van optimaal structureel ontwerp en topologie.

Geavanceerd positioneringssysteem: Uitgerust met een geavanceerd OTS-positieverwerkingssysteem en een kleurenwaferbeelduitlijningssysteem, met een kleine maximale vergrotingsfunctie.

Compatibiliteit: Geschikt voor wafers met een grote diameter (φ300 mm, tot 12 inch), met automatisch besturingssysteem, zeer nauwkeurige detectie, hoge doorvoer, lage trillingen, enz.

Toepassingsgebied

Het UF3000EX-sondestation wordt veel gebruikt bij het testen van wafers in het halfgeleiderproductieproces, met name in de productielijnen van LSI en VLSI, en kan efficiënte en nauwkeurige detectie van elektrische signalen bieden om de productkwaliteit en productie-efficiëntie te garanderen.