MIRTEC 2D AOI MV-6e ialah peralatan pemeriksaan optik automatik yang berkuasa, yang digunakan secara meluas dalam pelbagai proses pembuatan elektronik, terutamanya dalam pemeriksaan PCB dan komponen elektronik.
Ciri-ciri Kamera resolusi tinggi: MV-6e dilengkapi dengan kamera resolusi tinggi 15 megapiksel, yang boleh memberikan pemeriksaan imej 2D berketepatan tinggi. Pemeriksaan berbilang arah: Peralatan menggunakan pencahayaan warna enam segmen untuk memberikan pemeriksaan yang lebih tepat. Selain itu, ia juga menyokong pemeriksaan berbilang arah Side-Viewer (pilihan). Pengesanan kecacatan: Ia boleh mengesan pelbagai kecacatan seperti bahagian yang hilang, mengimbangi, batu nisan, sisi, terlalu banyak timah, terlalu sedikit timah, ketinggian, pematerian sejuk pin IC, bahagian meledingkan, BGA meledingkan, dll. Alat kawalan jauh: Melalui Intellisys sistem sambungan, alat kawalan jauh dan pencegahan kecacatan boleh dicapai, mengurangkan kehilangan tenaga kerja dan meningkatkan kecekapan. Parameter teknikal
Saiz: 1080mm x 1470mm x 1560mm (panjang x lebar x tinggi)
Saiz PCB: 50mm x 50mm ~ 480mm x 460mm
Ketinggian komponen maksimum: 5mm
Ketepatan ketinggian: ±3um
Item pemeriksaan 2D: bahagian hilang, offset, condong, monumen, sisi, bahagian terbalik, terbalik, bahagian yang salah, kerosakan, tinning, pematerian sejuk, lompang, OCR
Item pemeriksaan 3D: bahagian terjatuh, ketinggian, kedudukan, terlalu banyak timah, terlalu sedikit timah, pateri bocor, cip berganda, saiz, pematerian sejuk kaki IC, bendasing, bahagian meledingkan, BGA meledingkan, pemeriksaan tin menjalar, dsb.
Kelajuan pemeriksaan: Kelajuan pemeriksaan 2D ialah 0.30 saat/FOV, kelajuan pemeriksaan 3D ialah 0.80 saat/FOV
Senario aplikasi
MIRTEC 2D AOI MV-6e digunakan secara meluas dalam pemeriksaan PCB dan komponen elektronik, terutamanya untuk pemeriksaan bahagian yang hilang, mengimbangi, batu nisan, sisi, timah berlebihan, timah tidak mencukupi, ketinggian, pematerian sejuk pin IC, bahagian meledingkan, meledingkan BGA dan kecacatan lain. Ketepatan tinggi dan kecekapan tinggi menjadikannya alat pemeriksaan yang sangat diperlukan dalam proses pembuatan elektronik.