en
id
sk
tr
srp
swe
it
pt
nor
ben
may
bel
nl
fra
th
vie
ru
jp
kor
de
hi
Advantest는 다양한 칩과 집적 회로의 테스트에 널리 사용되는 고성능 반도체 테스트 장비입니다. 다음은 Advantest의 테스트 프로세서에 대한 자세한 소개입니다.
성과 지표 및 매개변수
테스트 범위: Advantest는 SoC, FPGA, ASIC 등 다양한 유형의 칩과 집적 회로를 테스트하는 데 적합합니다. 다양한 제조업체의 칩을 처리하고 정확하고 신뢰할 수 있는 테스트 서비스를 제공할 수 있습니다.
시험 정확도: Advantest는 고정밀 전압, 전류, 전력 및 기타 시험 기능을 갖추고 있어 양수, 음수, 무효 전력 및 역률 등의 매개변수를 측정할 수 있으며, 자동 오류 수정 기능을 갖추고 있어 시험 결과의 정확성을 보장합니다.
테스트 속도: Advantest는 첨단 테스트 기술과 제어 시스템을 사용하여 고속 및 효율적인 테스트 기능을 갖추고 있으며, 다양한 테스트 작업을 신속하게 완료하고 사용자 지시에 응답하여 테스트 효율성을 향상시킵니다.
테스트 민감도: 고감도 테스트 기능을 갖추고 있어 칩의 작은 변화도 감지할 수 있으며, 정밀 센서와 측정 기술을 사용하여 다양한 매개변수를 고정밀도로 감지합니다.
기타 매개변수: Advantest 테스터는 또한 높은 신뢰성, 안정성 및 내구성을 갖추고 있으며, 장시간 안정적으로 작동할 수 있으며 과전류, 과전압, 과부하 및 기타 보호 기능과 같은 다중 안전 보호 기능을 갖추고 있어 테스터와 테스트 장비의 안전을 효과적으로 보호합니다.
