ミルテック 3D葵 MV-7DL

Mirtec AOI MV-7DL は、回路基板上のコンポーネントと欠陥を検査および識別するために設計されたインライン自動光学検査システムです。

機能と用途

高解像度カメラ: MV-7DL には、ネイティブ解像度 4 メガピクセル (2,048 x 2,048) のトップビュー カメラと、ネイティブ解像度 2 メガピクセル (1,600 x 1,200) のサイドビュー カメラが 4 台搭載されています。4 コーナー照明システム: このシステムには、独立してプログラム可能な 4 つのゾーンがあり、さまざまな検査ニーズに最適な照明を提供します。高速検査: MV-7DL は、最大検査速度が 4,940 mm/s (7.657 in/s) であるため、超高速 PCB 検査に特に適しています。インテリジェント スキャン レーザー システム: 「3D 検査機能」により、特定の領域の Z 軸の高さを正確に測定できるため、ガルウィング デバイスのピン浮き検出やボール グリッド アレイ (BGA) 測定に適しています。

精密モーションコントロールシステム：高い再現性と繰り返し性を備え、検出の精度を保証します。

強力な OCR エンジン: 高度なコンポーネント識別検出を実行できます。

技術パラメータ 基板サイズ：標準350×250mm、大型500×400mm 基板厚さ：0.5mm〜3mm 配置ヘッドの数：1ヘッド、6ノズル 解像度：1000万ピクセル（2,048×2,048ピクセル） テスト速度：400万ピクセル/秒 4.940m²/秒 アプリケーションシナリオ MV-7DLは、さまざまな回路基板生産ラインの検出ニーズに適しています。特に、高精度で高速な検出が必要なシナリオに適しています。その強力な機能と効率的なパフォーマンスにより、現代の電子機器製造における重要なツールとなっています。