saki 2D AOI BF TristarⅡ

SAKI 2D AOI BF-TristarⅡは、両面同時検査用の高速外観検査機（AOI）です。両面同時検査装置を採用し、表裏の2つのプロセスを1つのプロセスに統合し、生産効率を向上させます。この装置は、全同軸垂直照明と組み合わせたリニアスキャン技術により、高速、高精度、高信頼性の検査を実現し、特にオンライン光学検査装置に適しています。

技術的特徴

両面同時検査：BF-TristarⅡは、1回のスキャン処理で基板の表裏を同時に検査できるため、生産ラインのダウンタイムが短縮され、生産効率が向上します。

リニアスキャン技術：先進的なリニアカメラシステムと完全同軸垂直照明を採用し、高速スキャン中に検査対象を見逃さないと同時に、機器の高精度と高信頼性を保証します。

コンパクト設計：リニアスキャンの設計コンセプトにより、BF-TristarⅡはコンパクトなボディ設計を実現し、単位面積あたりの生産性を最大限に高め、動作中に機器に振動がないため、高精度と低故障率を保証します。ソフトウェアサポート：デバイスは、リモートデバッグ、1台のマシンで複数の接続、バーコードトレース、MESアクセスなどの機能をサポートし、顧客の多様なニーズを満たし、長期的な投資を保護します。

アプリケーションシナリオ

SAKI 2D AOI BF-TristarⅡは、さまざまな高速生産ラインに適しており、炉前後の全自動光学検査と総合検査を実行できます。電子機器製造業界で広く使用されており、特に高精度で高効率な検査が求められる場面で使用されています。