सैंटेक ट्यूनेबल लेजर TSL-775

सैंटेक TSL-775 एक उच्च-शक्ति, विस्तृत-ट्यूनिंग-रेंज ट्यूनेबल लेजर है जिसे ऑप्टिकल संचार परीक्षण, ऑप्टिकल सेंसिंग, फोटोनिक एकीकृत सर्किट (PIC) लक्षण वर्णन और अत्याधुनिक वैज्ञानिक अनुसंधान के लिए डिज़ाइन किया गया है। सैंटेक की उच्च-स्तरीय ट्यूनेबल लेजर श्रृंखला के प्रतिनिधि के रूप में, TSL-775 आउटपुट पावर, तरंग दैर्ध्य सटीकता और ट्यूनिंग गति में उत्कृष्टता प्राप्त करता है, और प्रकाश स्रोत प्रदर्शन पर कठोर आवश्यकताओं वाले अनुप्रयोगों के लिए उपयुक्त है।

1. मुख्य विशेषताएं और तकनीकी लाभ

(1) विस्तृत तरंगदैर्घ्य ट्यूनिंग रेंज

तरंगदैर्घ्य रेंज: 1480-1640 एनएम (सी-बैंड और एल-बैंड को कवर करते हुए), मुख्यधारा फाइबर ऑप्टिक संचार विंडो के साथ संगत।

ट्यूनिंग रिज़ॉल्यूशन: 0.1 पीएम (पिकोमीटर स्तर), उच्च परिशुद्धता तरंगदैर्ध्य स्कैनिंग का समर्थन करता है।

(2) उच्च आउटपुट शक्ति

अधिकतम आउटपुट पावर: 80 mW (सामान्य), जो लंबी दूरी के फाइबर परीक्षण और उच्च-हानि डिवाइस लक्षण-निर्धारण की आवश्यकताओं को पूरा करता है।

पावर स्थिरता: ±0.02 डीबी (अल्पावधि), परीक्षण डेटा विश्वसनीयता सुनिश्चित करना।

(3) उच्च गति तरंगदैर्ध्य ट्यूनिंग

ट्यूनिंग गति: 200 एनएम/एस तक, तीव्र स्कैनिंग अनुप्रयोगों (जैसे स्पेक्ट्रल विश्लेषण, ओसीटी) के लिए उपयुक्त।

तरंगदैर्घ्य पुनरावृत्ति: ±1 pm, एकाधिक स्कैन की स्थिरता सुनिश्चित करता है।

(4) कम शोर और संकीर्ण लाइनविड्थ

स्पेक्ट्रल लाइनविड्थ: <100 kHz (सुसंगत संचार स्तर), अत्यंत कम चरण शोर।

सापेक्ष तीव्रता शोर (RIN): <-150 dB/Hz, उच्च संवेदनशीलता का पता लगाने के लिए उपयुक्त।

(5) लचीला मॉड्यूलेशन और नियंत्रण

प्रत्यक्ष मॉडुलन बैंडविड्थ: डीसी-100 मेगाहर्ट्ज, एनालॉग/डिजिटल मॉडुलन का समर्थन करता है।

इंटरफ़ेस: GPIB, USB, LAN, स्वचालित परीक्षण प्रणालियों के साथ संगत।

2. विशिष्ट अनुप्रयोग क्षेत्र

(1) ऑप्टिकल संचार परीक्षण

डीडब्ल्यूडीएम प्रणाली सत्यापन: बहु-तरंगदैर्ध्य चैनलों का अनुकरण, ऑप्टिकल मॉड्यूल और आरओएडीएम प्रदर्शन का परीक्षण।

सिलिकॉन ऑप्टिकल डिवाइस लक्षण वर्णन: मॉड्यूलेटर और वेवगाइड की तरंगदैर्ध्य-निर्भर प्रतिक्रिया को मापना।

(2) ऑप्टिकल सेंसिंग

एफबीजी (फाइबर ब्रैग ग्रेटिंग) डिमॉड्यूलेशन: तापमान/तनाव के कारण तरंगदैर्घ्य में बदलाव का उच्च परिशुद्धता से पता लगाना।

वितरित फाइबर सेंसिंग (डीएएस/डीटीएस): उच्च शक्ति, स्थिर प्रकाश स्रोत प्रदान करता है।

(3) फोटोनिक एकीकृत सर्किट (पीआईसी) परीक्षण

सिलिकॉन फोटोनिक चिप डिबगिंग: तेज तरंगदैर्ध्य स्कैनिंग, डिवाइस सम्मिलन हानि, क्रॉसटॉक और अन्य मापदंडों का मूल्यांकन।

समायोज्य लेजर स्रोत एकीकरण: PIC के तरंगदैर्घ्य-संबंधित प्रदर्शन सत्यापन के लिए उपयोग किया जाता है।

(4) वैज्ञानिक अनुसंधान प्रयोग

क्वांटम प्रकाशिकी: उलझे हुए फोटॉन युग्मों की उत्पत्ति, क्वांटम कुंजी वितरण (QKD)।

गैर-रेखीय प्रकाशिकी अनुसंधान: उत्तेजित ब्रिलोइन बिखराव (एसबीएस), चार-तरंग मिश्रण (एफडब्ल्यूएम)।

3. तकनीकी पैरामीटर (विशिष्ट मान)

पैरामीटर TSL-775 विनिर्देश

तरंगदैर्घ्य रेंज 1480–1640 एनएम (सी/एल बैंड)

आउटपुट पावर 80 mW (अधिकतम)

तरंगदैर्घ्य सटीकता ±1 pm (अंतर्निर्मित तरंगदैर्घ्य मीटर अंशांकन)

ट्यूनिंग गति 200 एनएम/एस तक

स्पेक्ट्रल लाइनविड्थ <100 kHz

पावर स्थिरता ±0.02 dB (अल्पावधि)

मॉड्यूलेशन बैंडविड्थ डीसी–100 मेगाहर्ट्ज

इंटरफेस GPIB, USB, LAN

4. प्रतिस्पर्धियों के साथ तुलना (TSL-775 बनाम अन्य ट्यूनेबल लेज़र)

विशेषताएं टीएसएल-775 (सैंटेक) कीसाइट 81600बी येनिस्ता टी100एस-एचपी

तरंगदैर्घ्य सीमा 1480–1640 एनएम 1460–1640 एनएम 1500–1630 एनएम

आउटपुट पावर 80 mW 10 mW 50 mW

ट्यूनिंग गति 200 एनएम/सेकेंड 100 एनएम/सेकेंड 50 एनएम/सेकेंड

तरंगदैर्घ्य सटीकता ±1 अपराह्न ±5 अपराह्न ±2 अपराह्न

लागू परिदृश्य उच्च गति परीक्षण/PIC लक्षण वर्णन सामान्य संचार परीक्षण उच्च शक्ति संवेदन

5. मुख्य लाभों का सारांश

उच्च शक्ति आउटपुट (80 mW) - लंबी दूरी या उच्च हानि परीक्षण परिदृश्यों के लिए उपयुक्त।

अल्ट्राफास्ट ट्यूनिंग (200 एनएम/एस) - परीक्षण दक्षता में सुधार करता है और गतिशील स्कैनिंग आवश्यकताओं के अनुकूल होता है।

पिकोमीटर-स्तर तरंगदैर्घ्य सटीकता - फोटोनिक एकीकृत सर्किट (पीआईसी) की परिशुद्धता परीक्षण आवश्यकताओं को पूरा करती है।

कम शोर और संकीर्ण लाइनविड्थ - सुसंगत संचार और क्वांटम प्रयोगों के लिए शुद्ध प्रकाश स्रोत प्रदान करता है।

विशिष्ट उपयोगकर्ता:

ऑप्टिकल संचार उपकरण निर्माता (जैसे हुआवेई और सिस्को)

फोटोनिक चिप अनुसंधान एवं विकास प्रयोगशालाएं (जैसे इंटेल सिलिकॉन फोटोनिक्स टीम)

राष्ट्रीय वैज्ञानिक अनुसंधान संस्थान (क्वांटम प्रौद्योगिकी, ऑप्टिकल सेंसिंग)