MIRTEC 2D AOI MV-6e adalah peralatan inspeksi optik otomatis yang kuat, yang banyak digunakan dalam berbagai proses manufaktur elektronik, terutama dalam pemeriksaan PCB dan komponen elektronik.
Fitur Kamera resolusi tinggi: MV-6e dilengkapi dengan kamera resolusi tinggi 15 megapiksel, yang dapat memberikan inspeksi gambar 2D presisi tinggi. Inspeksi multi arah: Peralatan mengadopsi pencahayaan warna enam segmen untuk memberikan inspeksi yang lebih akurat. Selain itu, juga mendukung inspeksi multi arah Side-Viewer (opsional). Deteksi cacat: Dapat mendeteksi berbagai cacat seperti bagian yang hilang, offset, tombstone, sisi, timah terlalu banyak, timah terlalu sedikit, tinggi, solder dingin pin IC, lengkungan bagian, lengkungan BGA, dll. Kontrol jarak jauh: Melalui sistem koneksi Intellisys, kontrol jarak jauh dan pencegahan cacat dapat dicapai, mengurangi kehilangan tenaga kerja dan meningkatkan efisiensi. Parameter teknis
Ukuran: 1080mm x 1470mm x 1560mm (panjang x lebar x tinggi)
Ukuran PCB: 50mm x 50mm ~ 480mm x 460mm
Tinggi komponen maksimum: 5mm
Akurasi ketinggian: ±3um
Item inspeksi 2D: bagian yang hilang, offset, miring, monumen, menyamping, bagian terbalik, terbalik, bagian yang salah, kerusakan, pelapisan timah, penyolderan dingin, rongga, OCR
Item pemeriksaan 3D: komponen terjatuh, ketinggian, posisi, timah terlalu banyak, timah terlalu sedikit, solder bocor, chip ganda, ukuran, penyolderan dingin IC, benda asing, komponen melengkung, lengkungan BGA, pemeriksaan timah merayap, dsb.
Kecepatan inspeksi: kecepatan inspeksi 2D adalah 0,30 detik/FOV, kecepatan inspeksi 3D adalah 0,80 detik/FOV
Skenario aplikasi
MIRTEC 2D AOI MV-6e banyak digunakan dalam pemeriksaan PCB dan komponen elektronik, terutama untuk pemeriksaan komponen yang hilang, offset, tombstone, sideways, timah berlebih, timah kurang, ketinggian, solder dingin pin IC, lengkungan komponen, lengkungan BGA, dan cacat lainnya. Presisi dan efisiensinya yang tinggi menjadikannya alat pemeriksaan yang sangat diperlukan dalam proses produksi elektronik.