en
id
sk
srp
swe
it
pt
ben
may
bel
nl
fra
th
vie
ru
jp
kor
de
arm
aze
bos
bul
bur
cs
dan
div
el
est
fil
fin
gle
glg
grn
heb
hi
hkm
hrv
hu
ice
kan
kin
lao
lav
lit
ltz
lug
mao
mlt
nep
nor
nya
ori
orm
per
pl
rom
san
som
spa
swa
tam
tr
ukr
urd
wel
xho
Marca: Phoenix;
Modelo: micromex;
Orixe: Alemaña;
Palabras clave: RAIOS X, máquina de raios X, sistema de inspección de raios X;
Introdución ao equipo de inspección de raios X Phoenix
Phoenix x ray ofrece sistemas de raios X microfocus e nanofocusTM segundo diferentes campos de aplicación, e ofrece solucións completas e personalizadas para sistemas de inspección automática bidimensionais utilizados en moitas industrias como a electrónica, semicondutores, automóbiles, aviación, etc. Estas solucións son principalmente usado en envases de semicondutores, montaxe de PCB (placa de circuíto impreso), produción de placas multicapa de placas de circuíto impreso, micromecánica e motores.
Sistema de tecnoloxía de tomografía computarizada de resolución submicronica
Ademais dos sistemas de inspección bidimensional, phoenix|xray tamén ofrece sistemas de tecnoloxía de tomografía informática de alta resolución cunha ampla gama de aplicacións. Por exemplo, nanotom® é un sistema nanofocusTM de 160 kV usado especialmente en ciencia de materiais, micromecánica, electrónica, xeoloxía e bioloxía. O sistema pódese utilizar para a detección tridimensional de microestruturas de varias mostras de materiais como materiais sintéticos, cerámicas, materiais compostos, metais ou rochas.
