omron 3d x-ray vt-x700 smt machine

Ang OMRON-X-RAY-VT-X700 machine ay isang high-speed X-ray CT tomography na awtomatikong inspeksyon na aparato, na pangunahing ginagamit upang malutas ang mga praktikal na problema sa mga linya ng produksyon ng SMT, lalo na sa high-density component mounting at substrate inspection.

Mga pangunahing tampok Mataas na pagiging maaasahan: Sa pamamagitan ng CT slice photography, ang tumpak na 3D inspeksyon ay maaaring gawin sa mga bahagi tulad ng BGA na ang solder joint surface ay hindi makikita sa ibabaw upang matiyak ang mahusay na paghatol ng produkto. High-speed inspection: Ang oras ng inspeksyon para sa isang field of view (FOV) ay 4 na segundo lamang, na lubos na nagpapabuti sa kahusayan ng inspeksyon. Ligtas at hindi nakakapinsala: Ang X-ray leakage ay mas mababa sa 0.5μSv/h, at isang closed tubular X-ray generator ang ginagamit upang matiyak ang ligtas na operasyon. Versatility: Sinusuportahan nito ang inspeksyon ng iba't ibang bahagi, kabilang ang BGA, CSP, QFN, QFP, mga bahagi ng risistor/capacitor, atbp., na angkop para sa iba't ibang pangangailangan sa produksyon. Mga teknikal na parameter

Mga bagay sa inspeksyon: BGA/CSP, mga nakapasok na bahagi, SOP/QFP, mga transistor, mga bahagi ng CHIP, mga bahagi ng electrode sa ibaba, QFN, mga power module, atbp.

Mga item sa inspeksyon: kakulangan ng paghihinang, hindi basa, dami ng panghinang, offset, dayuhang bagay, bridging, presensya o kawalan ng mga pin, atbp.

Resolusyon ng camera: 10μm, 15μm, 20μm, 25μm, 30μm, atbp., Maaaring mapili ayon sa iba't ibang mga bagay sa inspeksyon.

X-ray source: selyadong micro-focus X-ray tube (130KV).

Boltahe ng power supply: single-phase 200/210/220/230/240 VAC (±10%), three-phase 380/405/415/440 VAC (±10%). Mga sitwasyon ng aplikasyon

Ang mga makina ng OMRON-X-RAY-VT-X700 ay malawakang ginagamit sa industriya ng automotive electronics, industriya ng consumer electronics at industriya ng digital home appliance, lalo na angkop para sa high-density na paglalagay ng bahagi at inspeksyon ng substrate, na maaaring makabuluhang mapabuti ang kahusayan at katumpakan ng inspeksyon, at bawasan ang maling paghuhusga at hindi paghusga.