Santec TSL-775 on suure võimsusega laia häälestusvahemikuga häälestatav laser, mis on loodud optilise side testimiseks, optiliseks anduriks, fotoonilise integraallülituse (PIC) iseloomustamiseks ja tipptasemel teadusuuringuteks. Santeci tipptasemel häälestatava laserseeria esindajana paistab TSL-775 silma väljundvõimsuse, lainepikkuse täpsuse ja häälestuskiiruse poolest ning sobib rakendustele, kus valgusallika jõudlusele on seatud ranged nõuded.
1. Põhifunktsioonid ja tehnilised eelised
(1) Lai lainepikkuse häälestusvahemik
Lainepikkuste vahemik: 1480–1640 nm (hõlmab C-riba ja L-riba), ühildub tavaliste fiiberoptiliste sideakendega.
Häälestamise eraldusvõime: 0,1 pm (pikomeetri tase), toetab ülitäpset lainepikkuse skaneerimist.
(2) Suur väljundvõimsus
Maksimaalne väljundvõimsus: 80 mW (tüüpiline), mis vastab kiu kaugtestimise ja suure kadudega seadme iseloomustamise vajadustele.
Toite stabiilsus: ±0,02 dB (lühiajaline), tagades katseandmete usaldusväärsuse.
(3) Kiire lainepikkuse häälestamine
Häälestuskiirus: kuni 200 nm/s, sobib kiireteks skaneerimisrakendusteks (nt spektraalanalüüs, OCT).
Lainepikkuse korratavus: ±1 pm, tagades mitme skaneerimise järjepidevuse.
(4) Madal müratase ja kitsas joonelaius
Spektri joonelaius: <100 kHz (koherentne sidetase), äärmiselt madal faasimüra.
Suhtelise intensiivsusega müra (RIN): <-150 dB/Hz, sobib kõrge tundlikkusega tuvastamiseks.
(5) Paindlik modulatsioon ja juhtimine
Otsene modulatsiooni ribalaius: DC–100 MHz, toetab analoog-/digitaalmodulatsiooni.
Liides: GPIB, USB, LAN, ühildub automatiseeritud testimissüsteemidega.
2. Tüüpilised kasutusalad
(1) Optilise side testimine
DWDM-süsteemi kontrollimine: simuleerige mitme lainepikkusega kanaleid, testige optilisi mooduleid ja ROADM-i jõudlust.
Ränist optilise seadme iseloomustus: mõõtke modulaatorite ja lainejuhtide lainepikkusest sõltuvat reaktsiooni.
(2) Optiline andur
FBG (Fiber Bragg Grating) demodulatsioon: temperatuurist/pingest tingitud lainepikkuse nihke ülitäpne tuvastamine.
Hajutatud kiudude tuvastamine (DAS/DTS): tagab suure võimsusega stabiilse valgusallika.
(3) Fotoonilise integraallülituse (PIC) testimine
Räni fotoonkiibi silumine: kiire lainepikkuse skaneerimine, seadme sisestuskadude hindamine, läbirääkimine ja muud parameetrid.
Reguleeritav laserallika integreerimine: kasutatakse PIC-i lainepikkusega seotud jõudluse kontrollimiseks.
(4) Teaduslikud katsed
Kvantoptika: põimunud footonipaaride genereerimine, kvantvõtmejaotus (QKD).
Mittelineaarse optika uurimine: stimuleeritud Brillouini hajumine (SBS), neljalaine segamine (FWM).
3. Tehnilised parameetrid (tüüpväärtused)
Parameetrid TSL-775 Tehnilised andmed
Lainepikkuste vahemik 1480–1640 nm (C/L vahemik)
Väljundvõimsus 80 mW (maksimaalne)
Lainepikkuse täpsus ±1 pm (sisseehitatud lainepikkuse mõõturi kalibreerimine)
Häälestuskiirus Kuni 200 nm/s
Spektri joonelaius <100 kHz
Toite stabiilsus ±0,02 dB (lühiajaline)
Modulatsiooni ribalaius DC–100 MHz
Liidesed GPIB, USB, LAN
4. Võrdlus konkurentidega (TSL-775 vs. muud häälestatavad laserid)
Omadused TSL-775 (Santec) Keysight 81600B Yenista T100S-HP
Lainepikkuse vahemik 1480–1640 nm 1460–1640 nm 1500–1630 nm
Väljundvõimsus 80 mW 10 mW 50 mW
Häälestuskiirus 200 nm/s 100 nm/s 50 nm/s
Lainepikkuse täpsus ±1 pm ±5 pm ±2 pm
Kohaldatavad stsenaariumid Kiire test/PIC iseloomustus Üldine sidekatse Suure võimsusega tuvastus
5. Põhiliste eeliste kokkuvõte
Suure võimsusega (80 mW) – sobib pikamaa- või suure kadudega katseteks.
Ülikiire häälestus (200 nm/s) – parandab testimise efektiivsust ja kohandub dünaamilise skaneerimise nõuetega.
Pikomeetri taseme lainepikkuse täpsus – vastab fotooniliste integraallülituste (PIC) täpsustesti nõuetele.
Madal müra ja kitsas joonelaius – pakub puhast valgusallikat sidusa suhtluse ja kvantkatsete jaoks.
Tavalised kasutajad:
Optiliste sideseadmete tootjad (nagu Huawei ja Cisco)
Fotoonkiipide uurimis- ja arenduslaborid (nt Intel Silicon Photonics Team)
Riiklikud teaduslikud uurimisasutused (kvanttehnoloogia, optiline andur)