Santec TSL-775 je vysoce výkonný laditelný laser s širokým rozsahem ladění určený pro testování optické komunikace, optické snímání, charakterizaci fotonických integrovaných obvodů (PIC) a špičkový vědecký výzkum. Jako zástupce špičkové řady laditelných laserů Santec vyniká TSL-775 výstupním výkonem, přesností vlnové délky a rychlostí ladění a je vhodný pro aplikace s přísnými požadavky na výkon světelného zdroje.
1. Základní vlastnosti a technické výhody
(1) Široký rozsah ladění vlnových délek
Rozsah vlnových délek: 1480–1640 nm (pokrývá pásmo C a L), kompatibilní s běžnými komunikačními okny z optických vláken.
Rozlišení ladění: 0,1 pm (úroveň pikometru), podporující vysoce přesné skenování vlnových délek.
(2) Vysoký výstupní výkon
Maximální výstupní výkon: 80 mW (typický), splňující potřeby testování vláken na velké vzdálenosti a charakterizace zařízení s vysokou ztrátou.
Stabilita napájení: ±0,02 dB (krátkodobě), zajišťující spolehlivost testovacích dat.
(3) Vysokorychlostní ladění vlnové délky
Rychlost ladění: až 200 nm/s, vhodné pro aplikace rychlého skenování (jako je spektrální analýza, OCT).
Opakovatelnost vlnové délky: ±1 pm, zajišťující konzistenci více skenů.
(4) Nízký šum a malá šířka čáry
Spektrální šířka čáry: <100 kHz (úroveň koherentní komunikace), extrémně nízký fázový šum.
Relativní intenzita šumu (RIN): <-150 dB/Hz, vhodné pro detekci s vysokou citlivostí.
(5) Flexibilní modulace a ovládání
Šířka pásma přímé modulace: DC–100 MHz, podpora analogové/digitální modulace.
Rozhraní: GPIB, USB, LAN, kompatibilní s automatizovanými testovacími systémy.
2. Typické oblasti použití
(1) Testování optické komunikace
Ověření systému DWDM: simulujte kanály s více vlnovými délkami, testujte optické moduly a výkon ROADM.
Charakterizace křemíkového optického zařízení: měření odezvy modulátorů a vlnovodů v závislosti na vlnové délce.
(2) Optické snímání
FBG (Fiber Bragg Grating) demodulace: vysoce přesná detekce posunu vlnové délky způsobeného teplotou/napětím.
Distribuované snímání vláken (DAS/DTS): poskytuje vysoce výkonný a stabilní zdroj světla.
(3) Testování fotonických integrovaných obvodů (PIC).
Ladění křemíkového fotonického čipu: rychlé skenování vlnových délek, vyhodnocení vložného úbytku zařízení, přeslechů a dalších parametrů.
Integrace nastavitelného laserového zdroje: používá se pro ověření výkonu PIC v závislosti na vlnové délce.
(4) Vědecko-výzkumné experimenty
Kvantová optika: generování entanglovaných fotonových párů, distribuce kvantového klíče (QKD).
Výzkum nelineární optiky: stimulovaný Brillouinův rozptyl (SBS), čtyřvlnové míchání (FWM).
3. Technické parametry (typické hodnoty)
Parametry Specifikace TSL-775
Rozsah vlnových délek 1480–1640 nm (pásmo C/L)
Výstupní výkon 80 mW (maximum)
Přesnost vlnové délky ±1 pm (vestavěná kalibrace měřiče vlnové délky)
Rychlost ladění Až 200 nm/s
Spektrální šířka čáry <100 kHz
Stabilita napájení ±0,02 dB (krátkodobě)
Šířka modulačního pásma DC–100 MHz
Rozhraní GPIB, USB, LAN
4. Srovnání s konkurencí (TSL-775 vs. jiné laditelné lasery)
Funkce TSL-775 (Santec) Keysight 81600B Yenista T100S-HP
Rozsah vlnových délek 1480–1640 nm 1460–1640 nm 1500–1630 nm
Výstupní výkon 80 mW 10 mW 50 mW
Rychlost ladění 200 nm/s 100 nm/s 50 nm/s
Přesnost vlnové délky ±1 pm ±5 pm ±2 pm
Aplikovatelné scénáře Vysokorychlostní test/popis PIC Obecný komunikační test Snímání vysokého výkonu
5. Shrnutí hlavních výhod
Vysoký výstupní výkon (80 mW) - vhodný pro scénáře testování na dlouhé vzdálenosti nebo s vysokou ztrátou.
Ultrarychlé ladění (200 nm/s) – zlepšuje efektivitu testu a přizpůsobuje se požadavkům dynamického skenování.
Přesnost vlnové délky na úrovni pikometru – splňuje požadavky na přesnost testu fotonických integrovaných obvodů (PIC).
Nízký šum a úzká šířka čáry – poskytuje čistý zdroj světla pro koherentní komunikaci a kvantové experimenty.
Typičtí uživatelé:
Výrobci zařízení pro optickou komunikaci (jako Huawei a Cisco)
Laboratoře výzkumu a vývoje fotonických čipů (jako Intel Silicon Photonics Team)
Národní vědecko-výzkumné instituce (kvantová technologie, optické snímání)