Перабудоўвальны лазер Santec TSL-775

Santec TSL-775 - гэта высокамагутны наладжвальны лазер з шырокім дыяпазонам наладкі, прызначаны для тэсціравання аптычнай сувязі, аптычнага зандзіравання, характарыстык фатоннай інтэгральнай схемы (PIC) і перадавых навуковых даследаванняў. Будучы прадстаўніком высокага класа наладжвальных лазераў Santec, TSL-775 адрозніваецца выхадной магутнасцю, дакладнасцю даўжыні хвалі і хуткасцю налады і падыходзіць для прымянення з жорсткімі патрабаваннямі да прадукцыйнасці крыніцы святла.

1. Асноўныя асаблівасці і тэхнічныя перавагі

(1) Шырокі дыяпазон налады даўжыні хвалі

Дыяпазон даўжынь хваль: 1480–1640 нм (ахоплівае дыяпазон C і L), сумяшчальны з асноўнымі валаконна-аптычнымі вокнамі сувязі.

Дазвол налады: 0,1 пм (узровень пікометра), падтрымка высокадакладнага сканавання даўжыні хвалі.

(2) Высокая выхадная магутнасць

Максімальная выхадная магутнасць: 80 мВт (тыповая), што адпавядае патрэбам тэсціравання оптавалакна на вялікай адлегласці і характарыстык прылады з высокімі стратамі.

Стабільнасць магутнасці: ±0,02 дБ (кароткачасовая), што забяспечвае надзейнасць тэставых дадзеных.

(3) Высакахуткасная налада даўжыні хвалі

Хуткасць налады: да 200 нм/с, падыходзіць для прыкладанняў хуткага сканавання (напрыклад, спектральны аналіз, OCT).

Паўтараемасць даўжыні хвалі: ±1 мкм, забяспечваючы паслядоўнасць шматразовага сканавання.

(4) Нізкі ўзровень шуму і вузкая шырыня лініі

Шырыня спектральнай лініі: <100 кГц (узровень кагерэнтнай сувязі), вельмі нізкі фазавы шум.

Шум адноснай інтэнсіўнасці (RIN): <-150 дБ/Гц, падыходзіць для выяўлення з высокай адчувальнасцю.

(5) Гнуткая мадуляцыя і кантроль

Шырыня прамой мадуляцыі: DC–100 МГц, падтрымка аналагавай/лічбавай мадуляцыі.

Інтэрфейс: GPIB, USB, LAN, сумяшчальны з аўтаматызаванымі сістэмамі тэсціравання.

2. Тыповыя вобласці прымянення

(1) Тэставанне аптычнай сувязі

Праверка сістэмы DWDM: мадэлюйце шматхвалевыя каналы, тэстуйце аптычныя модулі і прадукцыйнасць ROADM.

Характарыстыка крамянёвых аптычных прылад: вымерайце залежную ад даўжыні хвалі рэакцыю мадулятараў і хваляводаў.

(2) Аптычнае зандзіраванне

Дэмадуляцыя FBG (валаконна-брэггаўская рашотка): высокадакладнае выяўленне зруху даўжыні хвалі, выкліканага тэмпературай/напружаннем.

Размеркаванае зандзіраванне валакна (DAS/DTS): забяспечвае высокую магутнасць, стабільную крыніцу святла.

(3) Тэставанне фатоннай інтэгральнай схемы (PIC).

Адладка крамянёвых фатонных чыпаў: хуткае сканіраванне даўжыні хвалі, ацэнка страт у прыладзе, крыжаваных перашкод і іншых параметраў.

Інтэграцыя з рэгуляванай лазернай крыніцай: выкарыстоўваецца для праверкі прадукцыйнасці PIC у залежнасці ад даўжыні хвалі.

(4) Навуковыя даследчыя эксперыменты

Квантавая оптыка: генерацыя заблытаных пар фатонаў, квантавае размеркаванне ключоў (QKD).

Даследаванні нелінейнай оптыкі: вымушанае рассейванне Брылюэна (ВБР), чатыроххвалевае змешванне (ЧВМ).

3. Тэхнічныя параметры (тыповыя значэнні)

Параметры Тэхнічныя характарыстыкі TSL-775

Дыяпазон даўжынь хваль 1480–1640 нм (дыяпазон C/L)

Выхадная магутнасць 80 мВт (максімальная)

Дакладнасць даўжыні хвалі ±1 пм (каліброўка ўбудаванага вымяральніка даўжыні хвалі)

Хуткасць перабудовы Да 200 нм/с

Шырыня спектральнай лініі <100 кГц

Стабільнасць магутнасці ±0,02 дБ (кароткатэрміновы)

Шырыня паласы мадуляцыі DC–100 МГц

Інтэрфейсы GPIB, USB, LAN

4. Параўнанне з канкурэнтамі (TSL-775 супраць іншых наладжвальных лазераў)

Асаблівасці TSL-775 (Santec) Keysight 81600B Yenista T100S-HP

Дыяпазон даўжынь хваль 1480–1640 нм 1460–1640 нм 1500–1630 нм

Выхадныя магутнасць 80 мВт 10 мВт 50 мВт

Хуткасць налады 200 нм/с 100 нм/с 50 нм/с

Дакладнасць даўжыні хвалі ±1 pm ±5 pm ±2 pm

Дастасавальныя сцэнарыі Тэст высокай хуткасці/Характарыстыка PIC Тэст агульнай сувязі Высокая магутнасць зандзіравання

5. Рэзюмэ асноўных пераваг

Высокая выхадная магутнасць (80 мВт) - падыходзіць для сцэнарыяў выпрабаванняў на вялікай адлегласці або з вялікімі стратамі.

Звышхуткая налада (200 нм/с) - павышае эфектыўнасць тэставання і адаптуецца да патрабаванняў дынамічнага сканавання.

Дакладнасць даўжыні хвалі на ўзроўні пікометра - адпавядае патрабаванням да тэставання дакладнасці фатонных інтэгральных схем (PIC).

Нізкі ўзровень шуму і вузкая шырыня лініі - забяспечвае чыстую крыніцу святла для кагерэнтнай сувязі і квантавых эксперыментаў.

Тыповыя карыстальнікі:

Вытворцы абсталявання аптычнай сувязі (напрыклад, Huawei і Cisco)

Лабараторыі даследаванняў і распрацовак фатонных чыпаў (напрыклад, каманда Intel Silicon Photonics)

Нацыянальныя навукова-даследчыя ўстановы (квантавыя тэхналогіі, аптычнае зандзіраванне)